Basisdefinitie van diëlektrische constante tester

Volgens de onderzoeksresultaten van elektrostatica genereert een geïsoleerde lading q in een vacuüm een ​​elektrisch veld E eromheen en wordt een elektrische veldkracht toegepast wanneer een andere testlaad Q0 het elektrische veld binnenkomt. De elektrische veldsterkte geproduceerd door de lading Q is:

Waarbij ε0 de diëlektrische constante in vacuüm is; r is de radiale afstand van de puntlaad q. Over het algemeen is de elektrische veldsterkte een vector. De elektrische veldkracht ervaren door de testlaad Q0 op afstand R van de lading Q is:

Volgens de reactie -eigenschap van de kracht wordt de lading q ook beïnvloed door de kracht van het elektrische veld dat wordt gegenereerd door de testlading Q0 en is de grootte van de kracht gelijk en tegenover. Volgens vergelijking (1) karakteriseert de diëlektrische constante ε0 in vacuüm de grootte van de elektrische veldsterkte gegenereerd door de geïsoleerde lading Q over een bepaalde afstand r. Als de vacuümconditie in vergelijking (1) wordt vervangen door een diëlektric

Waarbij ε de diëlektrische constante van het diëlektricum is. In praktische toepassingen wordt de diëlektrische constante ε0 in vacuüm meestal geselecteerd als een referentie, en de verhouding van de diëlektrische constante ε van het diëlektrische tot ε0 wordt gedefinieerd als een dimensieloze relatieve permittiviteit εr, zoals in vergelijking (4). Show:

Aangezien vacuüm een ​​ideaal diëlektrisch model is (geen atomen, moleculen), wordt het elektrische veld gegenereerd door de oorspronkelijke lading q verminderd in het werkelijke diëlektricum vanwege het gebonden ladingseffect, dat onwaarschijnlijk is in vacuüm. Daarom voldoet de relatieve diëlektrische constante ER voor het werkelijke diëlektricum altijd groter dan of gelijk aan 1.

Uit vergelijking (3) kan worden gezien dat de diëlektrische constante ε een beperking vertegenwoordigt voor de grootte van de elektrische veldsterkte die wordt gegenereerd door de lading q in het diëlektricum (naast de afstand is het ook de enige beperking). Het is duidelijk dat deze gevolgtrekking volledig acceptabel is in het geval van een elektrostatisch veld, maar het lijkt enigszins ontoereikend om deze conclusie rechtstreeks toe te passen op het afwisselend elektrische veld. Het onderzoek naar het microscopische representatiemechanisme en het macroscopische effect van diëlektrisch onder afwisselend elektrisch veld heeft enkele resultaten behaald, maar het heeft nog steeds verder onderzoek nodig. Het is ook een van de belangrijke onderzoeksrichtingen en inhoud van diëlektrische fysica en kwantumfysica.

Het kan worden bevestigd dat de eigenschap gekenmerkt door de diëlektrische constante van het diëlektricum ook het afwisselend elektrische veld beïnvloedt in het geval van een afwisselend elektrisch veld. De voortplantingssnelheid van een afwisselend elektrisch veld in een diëlektricum zal bijvoorbeeld afnemen, de frequentie zal constant zijn, de golflengte zal korter zijn (elektromagnetische propagatietheorie) en de diëlektrische constante zal groter zijn en de overeenkomstige verandering zal groter zijn.

Basisdefinitie van diëlektrische constante tester

Belangrijkste technische indicatoren van diëlektrische constante tester:

2.1 TANA en ε prestaties:

2.1.1 Test van Tan 8- en ε -veranderingen van vaste isolatiematerialen met testfrequenties van 10 kHz tot 120 MHz.

2.1.2 TAN AR en ε meetbereik:

Tan A: 0,1 tot 0,00005, ε: 1 tot 50

2.1.3 TAN AR en ε meetnauwkeurigheid (1MHz):

TANA: ± 5%± 0,00005, ε: ± 2%

Bedrijfsfrequentiebereik: 50 kHz ~ 50 MHz viercijferige display, spanningsgestuurde oscillator

Q Waarde Meetbereik: 1 tot 1000 driecijferige weergave, ± 1Q resolutie

Verstelbaar capaciteitsbereik: 40 ~ 500pf Δc ± 3pf

Capaciteitsmetingfout: ± 1% ± 1PF

Q Tabel Residuele inductiewaarde: ongeveer 20nh

Diëlektrische constante testerkenmerken:

◎ De innovatieve automatische q-waarde-retentietechnologie van het bedrijf maakt het mogelijk dat de Q-resolutie tot 0,1q kan worden gemeten, wat resulteert in een TAN A-resolutie van 0,00005.

◎ Een test voor de diëlektrische verlieshoek (tan 8) en diëlektrische constante (ε) van een vast isolerend materiaal bij 10 kHz tot 120 MHz.

◎ De resterende inductantie van de afstemmingslus is zo laag als 8nh, die minder fouten garandeert in (tanδ) en (ε) van 100 MHz.

◎ Speciaal LCD-schermmenu Display Multi-parameters: Q-waarde, testfrequentie, afstemmingsstatus, etc.

◎ q Waardebereik Automatisch / handmatige bereikregeling.

◎ DPLL Synthese 1kHz ~ 60MHz, 50 kHz ~ 160MHz testsignaal. Onafhankelijke signaalbronuitgang, dus dit apparaat is een samengestelde signaalbron.

◎ Het testapparaat voldoet aan de vereisten van de nationale standaard GB/T 1409-2006, Amerikaanse standaard ASTM D150 en IEC60250.

De diëlektrische constante tester werkt van 10 kHz tot 120 MHz en is in staat om het hoogfrequente diëlektrische verlies (tan 8) en diëlektrische constante (e) materialen in de werkfrequentie te testen.

Het testapparaat in dit instrument bestaat uit een plaatcondensator en een lineaire condensator van microcilinders. De plaatcondensator wordt in het algemeen gebruikt om het te testen monster te klemmen en de Q -meter wordt gebruikt als het aanwijzingsinstrument.

De verliestangen van het isolatiemateriaal wordt berekend door de formule door het gemeten monster in de plaatcondensator te plaatsen en de Q -waarde van het monster en de schaallezing van de dikte niet te wijzigen.

Evenzo wordt de capaciteitslezing van de lineaire condensator van de microcapacitator gewijzigd en wordt de diëlektrische constante berekend door de formule.